本文件界定了液相色谱法的术语、定义及符号。
本文件适用于液相色谱法标准、技术文件和书刊的编写。
本文件不适用于电泳。

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本文件规定了俄歇电子能谱仪特定性能参数的表述要求。
本文件适用于俄歇电子能谱仪的性能参数表述。

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本标准规定了氟化工产品和消费品中全氟辛烷磺酰基化合物（PFOS）的高效液相色谱串联质谱测定方法。
本标准适用于氟化工产品和消费品中全氟辛烷磺酰基化合物（PFOS）的测定。氟化工产品包括含氟水性涂料、泡沫灭火材料、洗涤剂、织物整理剂；消费品特指不粘炊具。
标准的方法检出限以全氟辛烷磺酸计，氟化工产品为质量分数0.000 2％，消费品为0.4 μg/m2。

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本标准规定了通过测量接触角来检测玻璃表面疏水污染物的意义、应用、影响因素、试验装置、试剂和材料、试验步骤、结果解释等。本标准适用于通过测量接触角来检测玻璃表面的疏水污染物。

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本标准表述了如何描述一台俄歇电子能谱仪的特定性能。

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本标准规定了涂料中全氟辛酸（PFOA）及其盐的高效液相色谱串联质谱测定方法。
本标准适用于涂料中全氟辛酸（PFOA）及其盐的测定。
本标准的方法检出限以全氟辛酸（PFOA）计为质量分数0.000 2％。

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本标准规定了三种条件下测量俄歇电子能谱仪和X射线光电子能谱仪横向分辨率的方法。直边法适用于横向分辨率预期值大于1 μm的仪器。栅格法适合于横向分辨率预期值大于20 nm，小于1 μm的仪器。金岛法则适用于横向分辨率预期值小于50 nm的仪器。
附录A、附录B和附录C给出了测量横向分辨率的带图的实例。

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本标准规定了常规分析中一种评估X射线光电子能谱仪强度标的重复性和一致性的方法，采用非单色Al/Mg或单色Al X射线源。本标准只适用于装有溅射离子枪的仪器。本标准不做强度/能量响应函数的校准。此校准应由仪器制造厂家或其他合格机构完成。本标准提供的数据用于评估和确认仪器使用期间强度/能量响应函数保持恒定的准确度。本标准提供了一些可能会影响一致性的仪器设置指导意见。

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本文件描述了表述X射线光电子能谱仪特定性能参数的方法。

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本标准规定了表面化学分析样品的处理和存放容器的要求。本标准适用于表面化学分析设备的用户了解表面化学分析技术的特殊样品处理要求，特别是俄歇电子能谱（AES）、二次离子质谱（SIMS）和X射线光电子能谱（XPS或ESCA）。
本标准也适用于对表面组成敏感的其他分析技术，如TXRF。对于特定的实例，特定的样品，需要更加注意。

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本文件描述了用扇形磁场或四极杆式二次离子质谱仪对硅中硼进行深度剖析的方法，以及用触针式表面轮廓仪或光学干涉仪深度定标的方法。
本文件适用于硼原子浓度范围1×1016 atoms/cm3～1×1020 atoms/cm3的单晶硅、多晶硅或非晶硅样品，溅射弧坑深度在50 nm及以上。

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本文件规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。
本文件适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量,测量范围从单层二硫化钼纳米片至厚度不大于100 nm，其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。

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本文件描述了一种用于优化一般分析目的的飞行时间二次离子质谱（SIMS）仪器的质量校准准确度的方法。本文件仅适用于飞行时间仪器，但并不限于任何特定的仪器设计。本文件提供了对一些仪器参数优化的指导，这些参数能使用此程序进行优化，还提供了适用于校准质量标以获得最佳质量准确度的一般峰的类型。

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本文件规定了化学品固液鉴别流动性测定法的试验概述、试验设备、样品处理、试验步骤和结果判定。本文件适用于不能确定熔点的黏性或糊状化学品的固体与液体形态鉴别。

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本文件界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语，按照系统顺序中各自的层次分类。
本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外，本文件的某些部分适用于相关领域（如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。

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