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本标准规定了电子电气产品中三丁基锡和三苯基锡的气相色谱-质谱测定方法。
本标准适用于电子电气产品中三丁基锡和三苯基锡的测定。

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GB/T 29783-2013 电子电气产品中六价铬的测定 原子荧光光谱法 现行 发布日期 :  2013-10-10 实施日期 :  2014-02-01

本标准规定了原子荧光光谱法测定电子电气产品中六价铬的分析方法。
本标准适用于电子电气产品中的聚合物材料中六价铬的测定。

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GB/T 29784的本部分规定了电子电气产品聚合物材料中多环芳烃的高效液相色谱测定方法。
本部分适用于电子电气产品聚合物材料中多环芳烃的测定。

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GB/T 29784的本部分规定了电子电气产品聚合物材料中多环芳烃的液相色谱质谱测定方法。
本部分适用于电子电气产品聚合物材料中多环芳烃的测定。

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GB/T 29784.4-2013 电子电气产品中多环芳烃的测定 第4部分:气相色谱法 现行 发布日期 :  2013-10-10 实施日期 :  2014-02-01

GB/T 29784的本部分规定了电子电气产品聚合物材料中多环芳烃的气相色谱测定方法。
本部分适用于电子电气产品聚合物材料中多环芳烃的测定。

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本标准规定了电子电气产品聚合物材料中六溴环十二烷含量的气相色谱质谱检测方法。
本标准适用于电子电气产品聚合物材料中六溴环十二烷含量的测定。

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GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 现行 发布日期 :  1985-04-16 实施日期 :  1985-12-01

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GB/Z 44383-2024 检测方法开发 物质选择指南 现行 发布日期 :  2024-08-23 实施日期 :  2024-12-01

本文件提供了在检测方法标准开发过程中物质选择的指导,也给出了候选物质主要来源IEC 62474 数据库的信息。
本文件适用于监管路线图和市场要求下的其他物质的物质筛选和选择过程。

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GB/T 33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法 被代替 发布日期 :  2016-12-13 实施日期 :  2017-07-01

本标准规定了能量色散X射线荧光光谱筛选测试电子电气产品中铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、总铬(Cr)和总溴(Br)等元素的仪器、人员技术能力、测试程序、质量控制、文档记录等要求。
本标准适用于电子电气产品中铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、总铬(Cr)和总溴(Br)等元素的X射线荧光光谱筛选测试。波长色散X射线荧光光谱筛选测试应用也可参照执行。
注:波长色散X射线荧光光谱对于样品前处理可参照相关标准或仪器说明书。

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GB/T 31274-2014 电子电气产品限用物质管理体系 要求 被代替 发布日期 :  2014-10-10 实施日期 :  2015-04-16

本标准规定了电子电气产品生产相关组织限用物质管理体系的要求,旨在帮助组织根据有关的法律法规或顾客的要求识别限用物质使用的相关过程,建立并实施限用物质管理体系。
由于组织及其产品的性质导致本标准的任何要求不适用时,可以考虑对其进行删减,但是删减应仅限于本标准第7章的要求,并且删减不应影响组织提供满足限用物质管理相关的适用法律法规要求或顾客要求的产品的能力或责任,否则不能声称符合本标准。
本标准适用于各种类型和规模的电子电气产品生产相关组织,满足其建立、实施、保持并改进限用物质管理体系的需求,以提高其限用物质控制能力,从而减少和(或)消除限用物质的使用。
本标准可以通过下列方式证实其符合性:
a)〓〖WB〗组织进行自我评价和自我声明;
b)〓〖DW〗组织的顾客对其进行符合性的评价和确认;
c)〓〖DW〗第三方机构对组织的限用物质管理体系进行认证;
d)〓〖DW〗其他相关方对组织自我声明的确认。

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GB/T 39560的本部分规范了从电子电气产品、电子组件和元器件中进行取样及机械制样的策略。这些样品可用于GB/T 39560其他部分规范的检测方法进行某些物质含量的分析测试。物质的限制因地区和时间的不同而异。本部分描述了在测定所关注物质之前获取并制备样品的通用过程。

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GB/Z 21274-2007 电子电气产品中限用物质铅、汞、镉检测方法 废止 发布日期 :  2007-12-20 实施日期 : 

本指导性技术文件规定了各类电子电气产品中铅、汞、镉的测定方法。
本指导性技术文件适用于各类电子电气产品中铅、汞、镉的测定。

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GB/T 5077-1985 电容器和电阻器的最大外形尺寸 废止 发布日期 :  1985-04-16 实施日期 :  1985-12-01

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GB/Z 21275-2007 电子电气产品中限用物质六价铬检测方法 废止 发布日期 :  2007-12-20 实施日期 : 

本指导性技术文件规定了各类电子电气产品中六价铬的测定方法。
本指导性技术文件适用于各类电子电气产品中六价铬的测定。

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