本文件描述了显微物镜数值孔径图像式测量方法的测量原理、测量装置、测量环境、测量步骤以及不确定度分析。
本文件适用于数值孔径标称值大于1.00 的无限远校正显微物镜的数值孔径测量 。

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本文件描述了采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的原理及方法、测量条件、设备及装置、测量步骤以及测量数据处理。
本文件适用于采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的测量，也适用于光学零件面形偏差的测量。

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本部分包含了纤维光学连接器接口的一般信息，包括规范性引用文件、定义以及设计和解读标准图纸的规则。

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本标准规定了微通道板的术语和定义、试验通用要求和试验方法。
本标准适用于微通道板。

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本标准规定了多光路光轴平行性的测试方法分类及原理、测试设备、测试环境、测试程序及测试数据处理。
本标准适用于具有可见、红外成像系统和激光发射系统的多光路光电设备光轴平行性的测试。

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本标准规定了配光测试系统的性能要求、检测要求及检测方法。
本标准适用于交通、信号指示、照明等领域使用的配光测试系统，其他用途的配光测试系统可参照使用。

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本文件规定了光电耦合器的基本额定值、特性、安全试验及测试方法。

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本文件描述了龙虾眼型聚焦光学元件的X射线焦距、十字臂垂直度、点扩散函数均匀性、角分辨率、有效面积、有效面积均匀性、半能宽等性能的测试方法。
本文件适用于空间天文、医疗成像、海关检测、物质分析等X射线聚焦成像领域使用的龙虾眼型聚焦光学元件的性能测试。其他用途的龙虾眼型聚焦光学元件参照使用。

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本文件规定了均匀光源的技术要求以及包装运输要求，描述了测试方法。本文件适用于结构形式为球型、平板型和准直型，光辐射波长或波段范围在220 nm~2 500 nm(含)，用于光电测量与校准或照明的具有均匀辐射特性的光源，用于其分类、设计和测试。

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本文件描述了热电型太赫兹探测器参数测试的原理、试验条件、仪器设备、样品、试验步骤和试验数据处理。
本文件适用于热电型太赫兹探测器。太赫兹高莱探测器和太赫兹量子阱探测器参照执行。

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本文件确立了基于磁共振原理的成像仪和波谱仪的质量控制（以下简称“质控”）方法的原理，描述了磁共振成像/波谱仪质控方法的测量条件、测量设备、控制流程、数据处理等内容。本文件适用于磁共振成像/波谱仪在医学和生命科学等领域中使用环节的质控，设计、生产、型批实验等环节的质控参照使用。

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本文件描述了成像衍射光学元件衍射效率测量的原理、测量条件、样品、仪器设备、测量步骤、测量数据处理等内容。本文件适用于成像衍射光学元件的衍射效率测量。

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本文件描述了精密光频测量应用中光学频率梳性能参数的测试环境要求、测试设备配置要求、测试方法、测试报告。本文件适用于精密光频测量系统中所用光学频率梳的性能参数测试。

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本文件描述了采用低相干干涉法测量光电系统中光学中心间距的原理、测量条件、测量设备、测量步骤以及测量数据处理。
本文件适用于光电系统中光学中心间距的测量，光学平板厚度的测量参照使用。

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