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GB/T 44791-2024 集成电路三维封装 带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求 即将实施 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2025-05-01

本文件规定了12 in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片的减薄工艺(以下简称减薄工艺)过程和评价要求。
注: 1 in=2.54 cm。

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GB/T 44775-2024 集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求 即将实施 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2025-05-01

本文件规定了集成电路三维封装中使用引线键合工艺及倒装工艺进行的芯片叠层工艺过程和评价要求。
本文件适用于集成电路三维封装中使用引线键合及倒装工艺进行叠层的电路。

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GB/T 44796-2024 集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求 即将实施 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2025-05-01

本文件规定了12 in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片划片工艺(以下简称划片工艺)的一般要求、详细要求和评价要求。
注: 1 in=2.54 cm。
本文件适用于12 in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片划片工艺。

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GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 现行 发布日期 :  1992-12-18 实施日期 :  1993-08-01

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GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 现行 发布日期 :  1992-12-18 实施日期 :  1993-08-01

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GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 现行 发布日期 :  1993-12-30 实施日期 :  1994-10-01

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GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸 现行 发布日期 :  1994-06-25 实施日期 :  1995-04-01

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《半导体器件的机械标准化》的本部分规定了采用载带自动焊(TAB)作为结构和互连主要构成的集成电路封装推荐值。本部分适用于制造厂供给用户的成品单元,对集成电路(IC)到载带的互连(内引线焊接)没有明确要求。

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本文件规定了焊球阵列(BGA)封装的尺寸测量方法。
本文件规定的测量方法,在符合下述约定条件下,为用户提供尺寸保证:
a) 测量一般采用手工或自动方式进行;
b) 如果某个尺寸不易直接测量,则最佳的替代测量方法将被确定为首选方法。

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GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分:总则 现行 发布日期 :  1996-07-09 实施日期 :  1997-01-01

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GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序〕 现行 发布日期 :  1996-07-09 实施日期 :  1997-01-01

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GB/T 9178-1988 集成电路术语 现行 发布日期 :  1988-05-18 实施日期 :  1988-10-01

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GB/T 42706.1-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分:总则 现行 发布日期 :  2023-05-23 实施日期 :  2023-09-01

本文件界定了半导体器件长期贮存的相关术语、定义和原理。长期贮存作为一种延缓淘汰的策略,是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。本文件提供了有效进行元器件长期贮存的理念、良好工作习惯和一般方法。

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GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件描述了微波电路中检波器(以下简称“检波器”)的电参数测试方法。本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试,包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。

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