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GB/T 1558-2023 硅中代位碳含量的红外吸收测试方法 现行 发布日期 :  2023-12-28 实施日期 :  2024-07-01

本文件描述了硅中代位碳原子含量的红外吸收测试方法。
本文件适用于电阻率大于3 Ω·cm的p型硅单晶片及电阻率大于1 Ω·cm的n型硅单晶片中代位碳原子含量的测试(室温下测试范围:5×1015 cm-3至硅中碳原子的最大固溶度;温度低于80 K时测试范围:不小于5×1014 cm-3)。

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GB/T 1558-2009 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法 被代替 发布日期 :  2009-10-30 实施日期 :  2010-06-01

本标准规定了硅中代位碳原子含量的红外吸收测量方法。
本标准适用于电阻率高于3 Ω·cm的p型硅片及电阻率高于1 Ω·cm的n型硅片中代位碳原子含量的测定,对于精密度要求不高的硅片,可以测量电阻率大于0.1 Ω·cm的硅片中代位碳原子含量。由于碳也可能存在于间隙位置,因而本方法不能测定总碳含量。
本标准也适用于硅多晶中代位碳原子含量的测定,但其晶粒界间区的碳同样不能测定。
本标准测量的碳原子含量的有效范围:室温下从硅中代位碳原子含量5×1015 at·cm-3 (0.1 ppma)到碳原子的最大溶解度,77 K时检测下限为5×1014 at·cm-3 (0.01 ppma)。

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GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法 被代替 发布日期 :  1997-12-22 实施日期 :  1998-08-01

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