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GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检 现行 发布日期 :  2012-11-05 实施日期 :  2013-02-15

GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

定价: 24元 / 折扣价: 21 加购物车

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