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GB/T 29508-2013 300 mm硅单晶切割片和磨削片 现行 发布日期 :  2013-05-09 实施日期 :  2014-02-01

本标准规定了直径300 mm、p型、<100>晶向、电阻率0.5Ω·cm~20Ω·cm的硅单晶切割片和磨削片(简称硅片)产品的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存等。
本标准适用于直径300 mm直拉单晶经切割、磨削制备的圆形硅片,产品将进一步加工成抛光片,用于制作集成电路IC用线宽90 nm技术需求的衬底片。

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本标准规定了用二次离子质谱仪(SIMS)测定光伏电池用硅材料中硼和铝含量的方法。
本标准适用于光伏电池用硅材料中受主杂质硼和铝含量的定量分析,其中硼和铝的浓度均大于1×1013atoms/cm3。其他受主杂质的测量也可参照本标准。

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本标准规定了用二次离子质谱仪(SIMS)测定光伏电池用硅材料中磷、砷和锑含量的方法。
本标准适用于光伏电池用硅材料中施主杂质磷、砷和锑含量的定量分析,其中磷、砷和锑的浓度均大于1×1014atoms/cm3。

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GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片 现行 发布日期 :  2014-07-24 实施日期 :  2015-04-01

本标准规定了太阳能电池用锗衬底片的要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、储存、质量证明书与订货单(或合同)内容。
本标准适用于垂直梯度凝固法(VGF)和直拉法(CZ)制备的太阳能电池用锗衬底片(以下简称锗衬底片)。

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GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片 现行 发布日期 :  2019-06-04 实施日期 :  2020-05-01

本标准规定了锗单晶和锗单晶片的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书及订货单(或合同)内容。
本标准适用于制备半导体器件、激光器组件、红外光学部件用的锗单晶和锗单晶片。

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GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法 现行 发布日期 :  2009-10-30 实施日期 :  2010-06-01

本标准规定了硅单晶切割片、研磨片、抛光片(以下简称硅片)翘曲度的非接触式测试方法。本标准适用于测量直径大于50 mm,厚度大于180 μm的圆形硅片。本标准也适用于测量其他半导体圆片的翘曲度。本测试方法的目的是用于来料验收或过程控制。本测试方法也适用于监视器件加工过程中硅片翘曲度的热化学效应。

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GB/T 12962-1996 硅单晶 被代替 发布日期 :  1996-11-04 实施日期 :  1997-04-01

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GB/T 12962-2005 硅单晶 被代替 发布日期 :  2005-09-19 实施日期 :  2006-04-01

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GB/T 12963-2009 硅多晶 被代替 发布日期 :  2009-10-30 实施日期 :  2010-06-01

本标准规定了硅多晶的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、运输、贮存。本标准适用于以三氯氢硅或四氯化硅用氢还原法制得的硅多晶。

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GB/T 12965-1996 硅单晶切割片和研磨片 被代替 发布日期 :  1996-11-04 实施日期 :  1997-04-01

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GB/T 12965-2005 硅单晶切割片和研磨片 被代替 发布日期 :  2005-09-19 实施日期 :  2006-04-01

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GB/T 19199-2003 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 被代替 发布日期 :  2003-06-16 实施日期 :  2004-01-01

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GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块 被代替 发布日期 :  2012-12-31 实施日期 :  2013-10-01

本标准规定了太阳能级铸造多晶硅块的产品分类、技术要求、试验方法、检测规则以及标志、包装、运输、贮存等。
本标准适用于利用铸造技术制备多晶硅片的多晶硅块。

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GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片 被代替 发布日期 :  2012-12-31 实施日期 :  2013-10-01

本标准规定了太阳电池用多晶硅片的术语定义、符号及缩略语、产品分类、技术要求、试验方法、检测规则以及标志、包装、运输、贮存等。
本标准适用于铸锭多晶切片垂直于长晶方向生产的太阳电池用多晶硅片。

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GB/T 11069-2006 高纯二氧化锗 被代替 发布日期 :  2006-07-18 实施日期 :  2006-11-01

本标准规定了高纯二氧化锗的要求、试验方法、检验规则和包装、标志、运输、贮存及合同内容等。 本标准适用于以高纯四氯化锗为原料,经水解、洗涤和烘干制得的高纯二氧化锗。产品供制作还原锗、有机锗、催化剂、光纤用四氯化锗、锗酸铋(BGO)晶体及化合物晶体等。

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