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T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法 现行 发布日期 :  2024-10-17 实施日期 :  2024-10-25

本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化的分级标准及实验条件、方法。本文件主要适用于有机发光二极管显示器。本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法,同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型,包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。

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