【团体标准】有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法

本网站发布时间： 2024-11-07

T/HBAI 001-2024
现行
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标准简介

适用范围：

本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹（Mura）缺陷量化的分级标准及实验条件、方法。本文件主要适用于有机发光二极管显示器。本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。

基本信息

标准号：
T/HBAI 001-2024
标准名称：
有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法
英文名称：
Organic light emitting diode displays – Quantitative evaluation methods of surface Mura
标准状态：
现行
发布日期：
2024-10-17
实施日期：
2024-10-25
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
31.120
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、刘洒、林松、陈若愚
起草单位：
华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数字化设计与制造创新中心有限公司
归口单位：
湖北省人工智能学会
提出部门：
湖北省人工智能学会
发布部门：
湖北省人工智能学会

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