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【国家标准】 半导体探测器X射线能谱仪通则

本网站 发布时间： 2016-09-02
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标准简介标准简介

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适用范围：

本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)联用的此类EDS的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。

读者对象：

　　X射线能谱仪研究、设计、制造、检验、使用单位的技术人员和管理人员等。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 20726-2006

  • 标准名称：

    半导体探测器X射线能谱仪通则

  • 英文名称：

    Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

  • 标准状态：

    被代替

  • 发布日期：

    2006-12-25

  • 实施日期：

    2007-08-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.99

  • 中标分类号：

    N33

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    14 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光、范光

  • 起草单位：

    中国科学院地质与地球物理研究所

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会

  • 提出部门：

    全国微束分析标准化技术委员会

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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