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【国家标准】 工业硅化学分析方法　第5部分：杂质元素含量的测定　X射线荧光光谱法

本网站 发布时间： 2015-05-04
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适用范围：

GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 14849.5-2014

  • 标准名称：

    工业硅化学分析方法　第5部分：杂质元素含量的测定　X射线荧光光谱法

  • 英文名称：

    Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 5:Determination of impurity contents—X-ray fluorescence method

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2014-12-05

  • 实施日期：

    2015-05-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    77.120.10

  • 中标分类号：

    H12

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    13 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅、张爱玲、胡智弢、张晓平、刘汉士、刘维理、马启坤、唐飞、白万里、王宏磊、常智杰、聂恒声、金波、王云舟

  • 起草单位：

    昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司

  • 归口单位：

    全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

  • 提出部门：

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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