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- GB/T 13389-2014 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
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标准号:
GB/T 13389-2014
标准名称:
掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
英文名称:
Practice for conversion between resistivity and dopant density for boron-doped,phosphorus-doped,and arsenic-doped silicon标准状态:
现行-
发布日期:
2014-12-31 -
实施日期:
2015-09-01 出版语种:
中文简体
起草人:
孙燕、梁洪、高英、楼春兰、张静、王飞尧、曹孜、何良恩、张海英、张群社起草单位:
有研半导体材料股份有限公司、四川新光硅业科技有限责任公司、中国计量科学研究院、浙江省硅材料质量检验中心、杭州海纳半导体有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、西安隆基硅材料股份有限公司归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)提出部门:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)发布部门:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
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