【国家标准】微机电系统(MEMS)技术　薄膜力学性能的鼓胀试验方法

本网站发布时间： 2024-12-19

GB/T 44919-2024
现行
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标准简介

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适用范围：

本文件描述了窗口薄膜的鼓胀测试方法。试样由微米/纳米结构薄膜材料制备，包括金属、陶瓷和聚合物等薄膜，用于微机电系统（MEMS）、微机械等领域。薄膜厚度范围为0.1 μm～10 μm。正方形和长方形窗口宽度范围0.5 mm～4 mm，圆形窗口直径范围0.5 mm～4 mm。
本文件适用于常温环境条件下，对窗口薄膜试样施加均匀压力进行弹性模量和残余应力测试。

基本信息

标准号：
GB/T 44919-2024
标准名称：
微机电系统(MEMS)技术　薄膜力学性能的鼓胀试验方法
英文名称：
Micro-electromechanical systems(MEMS) technology—Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
标准状态：
现行
发布日期：
2024-11-28
实施日期：
2024-11-28
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
31.080.99
中标分类号：
L59

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《半导体器件　微机电器件　第17部分:薄膜机械性能的打压试验方法》 IDT 等同采用

出版信息

页数：
24 页
字数：
34 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
周维虎、李根梓、孙宏霖、刘胜、霍树春、高成臣、焦斌斌、陈立国、杨剑宏、张平平、陈志文、陈思、马龙全、黄庆安、聂萌、谢红梅、陈晓梅、卢永红、张红旗、刘景全、高峰、黄晟
起草单位：
中国科学院微电子研究所、中机生产力促进中心有限公司、苏州容启传感器科技有限公司、武汉大学、北京大学、昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司、苏州晶方半导体科技股份有限公司、苏州慧闻纳米科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市美思先端电子有限公司、东南大学、芯联集成电路制造股份有限公司、中关村光电产业协会、华东电子工程研究所(中国电子科技集团公司第三十八研究所)、上海交通大学、明石创新(烟台)微纳传感技术研究院有限公司、武汉高德红外股份有限公司
归口单位：
全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
提出部门：
全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
发布部门：
快3网下载安装到手机、国家标准化管理委员会

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